Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов

Артикул 34361580

Состояние: Новый товар

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля,

Подробнее

Нет в наличии товара

Отправить другу

Отправить другу

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля,

Получатель: :

Вашего друга зовут ^* :

Адрес электронной почты Вашего друга ^* :

^* Обязательные поля

или Отмена
Печать

Характеристики

Автор	Потапов Леонид Алексеевич, Зотин Виталий Федорович, Дракин Александр Юрьевич
Серия	Учебники для вузов. Специальная литература
Переплет	твердый
Год издания	2018, 2018
ISBN	978-5-8114-3312-4
Страниц	284
Формат	20.8x13.6x1.6 см

Описание

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям 'Радиотехника', 'Инфокоммуникационные технологии и системы связи', 'Конструирование и технология электронных средств', 'Электроника и наноэлектроника', 'Электроэнергетика и электротехника' (уровень магистратура), аспирантам направлений 'Электроника, радиотехника и системы связи', 'Электро- и теплотехника'.